BenQ 1620

slawekj · 13.12.2004, 19:31

C.d. testu Verbatim +R x16

Smart Scan:

Testowana płytka dostała rekomendację na zapis z max prędkością 16x.

Zapis plikiem testowym Nero

Odczyt Nero

Mniejsze błędy TE/FE wpłynęły znacząco na jakość zapisu.
Również czas zapisu w stosunku do testowanej płytki TDK x16 mniejszy o 58sek.
Testy pokazują jednoznacznie jak duże znaczenie ma wstępny test jakościowy czystej płytki a mniejsze błędy TE/FE na ostateczny wynik i czas zapisu.
Niskie Jitter i brak błędów PO. Wysoka ocena końcowa 92/100.

Jakość testowanej płytki na nośniku MCC 004 wyższa od nośnika TDK 003.

13.12.2004, 19:31	#11
slawekj Guru Data rejestracji: 12.07.2004 Posty: 5,308	C.d. testu Verbatim +R x16 Smart Scan: Testowana płytka dostała rekomendację na zapis z max prędkością 16x. Zapis plikiem testowym Nero Odczyt Nero Mniejsze błędy TE/FE wpłynęły znacząco na jakość zapisu. Również czas zapisu w stosunku do testowanej płytki TDK x16 mniejszy o 58sek. Testy pokazują jednoznacznie jak duże znaczenie ma wstępny test jakościowy czystej płytki a mniejsze błędy TE/FE na ostateczny wynik i czas zapisu. Niskie Jitter i brak błędów PO. Wysoka ocena końcowa 92/100. Jakość testowanej płytki na nośniku MCC 004 wyższa od nośnika TDK 003. Ostatnio zmieniany przez slawekj : 29.06.2011 o godz. 20:57


	Nagrywarki \| Pliki \| Dyski twarde \| Recenzje \| Księgarnia \| Biosy \| Artykuły \| Nagrywanie od A do Z \| Słownik \| FAQ