C.d. testu Verbatim +R x16
Smart Scan:
Testowana płytka dostała rekomendację na zapis z max prędkością 16x.
Zapis plikiem testowym Nero
Odczyt Nero
Mniejsze błędy TE/FE wpłynęły znacząco na jakość zapisu.
Również czas zapisu w stosunku do testowanej płytki TDK x16 mniejszy o 58sek.
Testy pokazują jednoznacznie jak duże znaczenie ma wstępny test jakościowy czystej płytki a mniejsze błędy TE/FE na ostateczny wynik i czas zapisu.
Niskie Jitter i brak błędów PO. Wysoka ocena końcowa 92/100.
Jakość testowanej płytki na nośniku MCC 004 wyższa od nośnika TDK 003.
