Cytat:
|
Napisany przez pawelblu
Heh, caly problem w tym ze wykres TE/FE nie przenosi sie na wykres PI/PIF, wiec osobiscie uwazam ze robienie testu FE/TE lub jego nie robienie, to tylko kwestia 'widzimisie' testujacego.
|
Tu częściowa zgoda ale nie do końca.
Z błędami TE/FE nie jest tak, że przekładają się bezpośrednio.
Ostateczny wynik zależy od metody zapisu.
Inaczej płytka zostanie wypalona na BenQ czy Pioneer ( podobny system zapisu) a inaczej na napędach za stałym lub strefowo zmiennym OPC.
Dlatego nie należy się doszukiwać analogii do wykresów błędów TE/FE.
Wskazują one jedynie paramatry płytki a czym większe te błędy tym na ogół gorzej wypalona płytka.
Szczególnie jest to widoczne na końcówkach testowanych nośników.
